טכנולוגיה חדשה לסריקה של תלת-ממד
קפצ'ר 3D (CAPTURE 3D), ספקית של פתרונות מדידה תלת-ממדיים והשותפה האמריקנית הרשמית של קבוצת GOM GmbH/ZEISS, הכריזה על T-SCAN hawk, סורק לייזר נישא שאוסף מידע תלת-ממדי מדויק במהירות. הסורק תלת-ממד מציע תוכנת בדיקה GOM, פוטוגרמטריה (טכניקה למיפוי ומדידות המתבצעים בעזרת תצלומי אוויר, ובמיוחד - מודלים לשחזור מיקום של עמדת הצילום לצורך מיפוי מרחבי - ויקיפדיה) משולבת, ריבוי מקורות לייזר ושלושה מצבי סריקה ממוקדי אפליקציה. המכשיר מספק את הגמישות הנחוצה להשגת מגוון משימות, כולל בדיקת MRO לכשלים בתעופה, הדפסה בתלת-ממד, יצירת אב טיפוס מהירה, בקרת איכות והנדסה הפוכה.
פיצ'רים טכניים מרכזיים של T-SCAN hawk מספקים גמישות שמשמשת למטרות מגוונות, כולל פוטוגרמטריה של אובייקטים גדולים, ריבוי מקורות לייזר ושלושה מצבי סריקה: צלבים אדומים לשטחי מדידה גדולים יותר, קו אדום יחיד כדי להגיע למקומות קשים ולכיסים עמוקים, וקווים כחולים לשטחים כהים, בוהקים או מחזירי אור.
את מצבי הסריקה אפשר לשנות בלחיצה על כפתור שעל ידית הסורק. אפשר לשנות את מצב הסריקה גם בזמן שהסריקה פועלת. המנגנון משתמש בשני מקורות לייזר, אדום וכחול, כדי ללכוד מידע מתבניות וחומרים שמצויים על פני השטח, בכלל זה אובייקטים כהים וזוהרים. הודות לפונקציית הפוטוגרמטריה אפשר לסרוק גם אובייקטים גדולים. הסורק אוסף נתונים מאובייקטים בתנועה או ברטט, ולפיכך השימוש בו אינו מגובל לאובייקטים סטטיים.
בהיותו קל משקל ונישא, אפשר להביא את הסורק אל האובייקט שיש לסרוק, גם אם האובייקט נמצא במקום שאינו נגיש, למשל בנבכי מנוע של מטוס.
הסורק מצריך הכנה מינימלית ואפשר להתחיל להשתמש בו בתוך דקות. תוכנת בדיקה של GOM מנחה את המשתמש לאורך התהליך - הסריקה, הדגימה והבדיקה. הסורק יכול לפשט תהליכי עבודה גם בפסי ייצור תעשייתיים, בתחזוקה ובתיקון.
תוכנת הבדיקה של GOM היא סטנדרט תעשייתי למדידות-תלת ממד של אובייקטים נראים. בזמן איסוף המידע של הסורק התוכנה מציגה את הנתונים מיידית כך שאפשר לראות את התוצאות בזמן אמת. התוכנה תומכת בכל שלבי התהליך - מסריקה ועריכה, דרך ייבוא CAD וניתוח מגמות ועד הרכבה דיגיטלית ובדיקה ממדית.
הסורק מקרין שטח סריקה של 550X600 מ"מ עם 14 צלבי לייזר אדומים למשימות סריקה כלליות, ארבעה קווים מקבילים כחולים לסריקה עדינה וקו אדום יחיד לסריקה בכיסים עמוקים ובמקומות קשים לגישה.
